洪加城｜特約編輯 (臺灣大學化學系碩士生)
在電子設備中，訊號透過電路傳遞時往往會出現一些隨機擾動，這些擾動被統稱為雜訊。雖然雜訊會降低儀器的靈敏度，但分析雜訊的成因可以告訴我們材料在微觀系統下的量子現象。
例如：過去的科學家透過測量散粒噪聲(shot noise)去了解量子霍爾效應與自旋電子系統(spintronic system)。近期，以色列的Oren Tal 和加拿大的 Dvira Segal所領導的團隊利用閃爍噪聲(flicker noise)發展了一個更簡易的方法觀測量子現象。他們利用原子級接面的電路實驗與理論模型分析閃爍噪聲，並深入了解電子和接面上缺陷所造成的量子效應。而這套技術也展現出潛力，使科學家們得以從閃爍噪聲中一窺不同奈米級電路中的材料或結構所產生的量子現象。
資料來源
- Pink Noise as a Probe of Quantum Transport
https://physics.aps.org/articles/v15/s78 - O. Shein-Lumbroso et al., “Quantum flicker noise in atomic and molecular junctions,” Phys. Rev. Lett. 128, 237701 (2022)
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.128.237701
